葉面積指數(shù)是什么

葉面積指數(shù)一般是描述植植物冠層結(jié)構(gòu)和能量吸收能力的關鍵參數(shù)之一。葉面積指數(shù)可以用于量化植被的光合作用效率和水分利用效率，并且是全球變化研究和生態(tài)學模型的重要變量。因此，我們應該如何測定葉面積指數(shù)呢？

葉面積指數(shù)的測定方法有哪些？

1、點接觸法：點接觸法是用細探針以不同的高度角和方位角刺入冠層，然后記錄細探針從冠層頂部到達底部的過程中針尖所接觸的葉片數(shù)目。

2、消光系數(shù)法：該法通過測定冠層上下輻射以及與消光系數(shù)該法通過測定冠層上下輻射以及與消光系數(shù)相關的參數(shù)來計算葉面積指數(shù)。

3、經(jīng)驗公式法：經(jīng)驗公式法利用植物的胸徑、樹高、邊材面積、冠幅等容易測量的參數(shù)與葉面積或葉面積指數(shù)的相關關系建立經(jīng)驗公式來計算。

4、遙感方法：衛(wèi)星遙感方法為大范圍研究LA I提供了有效的途徑。主要有2種遙感方法可用來估算葉面積指數(shù)，一種是統(tǒng)計模型法。另一種是光學模型法。

5、光學儀器法：光學儀器法按測量原理分為基于輻射測量的方法和基于圖像測量的方法。

6、儀器測定法：一般是采用葉面積指數(shù)測定儀，它采用比爾定律以及冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關的原理，通過魚眼鏡頭成像和CCD圖像傳感器測量冠層數(shù)據(jù)和獲取植物冠層圖像，利用軟件對所得圖像和數(shù)據(jù)進行分析計算，得出冠層相關指標和參數(shù)。具有準確、省時省力、快捷方便的特點。具體地葉面積指數(shù)測定可測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射（PAR）等。